首頁 >> 産品展示 >> HST-S系列 50N～5000N.1500mm/min高速試驗機系統 懸臂式
HST-S系列;50N～5000N.1500mm/min高速試驗機系統(懸臂結構)(CE CUL/CSA)
→50N～5000N.High-speed Testing Machine(Cantilever)(Single Column System)(CE CUL/CSA)；
→1500mm/min.High-speed Testing Machine(Cantilever)(Single Column System)(CE CUL/CSA)；
重要功能：
→材料、零件、部件、構件等金屬材料、非金屬材料、合金材料、複合材料在室溫環境下進行高速拉伸試驗、高速壓縮試驗，對材料力學性能進行實驗測試及研究。
→高速拉-拉試驗、高速拉-壓試驗、高速快壓試驗、高速循環試驗。
→薄板、板材、帶材、箔材、扁材、線材、棒材、型材、管材、薄片、方形、圓形、矩形、圓環形、鑄鐵、鑄鐵非鐵合金、管段試樣、比例試樣、非比例試樣、全壁厚縱向剖條試樣、全壁厚橫向剖條試樣、矩形橫截面試樣、圓形橫截面試樣。
→各種薄金屬、絲材、細線、纖維、彈性體、泡沫材料性能試驗。
→紡織、食品、藥品、化妝品、橡膠、塑料、薄膜、生物材料性能試驗。
→電子部件的拉脫、剝離、焊接強度試驗。
→印刷電路板的剝離、彎曲強度、緊固件性能試驗。
→木制品、紙産品、膠片樣品的拉伸試驗。
→應力松弛試驗及粘合劑強度試驗。
重要特點：
→人體工程學設計，機宜人、人適機，符合人-機-環境系統，高效、健康、舒適、安全。
→精密無間隙滾珠絲杠，防跳動、防振動、高剛性、高穩定性的三柱懸臂載荷機架，機架尺寸可定制。
→高精度測力傳感器，線性寬，穩定性好，保證載荷的測力精度。
→高速率、低振動、免維護、靜音型交流伺服電機驅動系統。
→電路板采用光電隔離設計，具有抗幹擾能力強的特點。
→內置以太網接口；方便的手持控制器，即停即行功能；操作靈活、隨意切換。
→多種完善的試驗夾具，快速更換；可選T型工作台、防旋轉夾具/附件裝置、環境系統、引伸計。
→寬泛的測試速度0.0001～1500mm/min（60in/min）（可定制6000mm/min高速試驗機系統）。
→高速啓動、高速停止、高速拉伸、高速快壓、高速循環。
→高速試驗防沖擊保護，特殊設計，保證高速運行中測力傳感器不受過載沖擊。
→內置式全數字閉環、多通道、多功能、易操控的HRJ-Test測控軟件；多種標准方法（國標、英標、美標、德標、日標、意標、俄標、法標、澳標、歐標等/GB、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、NF、EN、AS、NBR)。
→試驗過程的自動控制、數據采集、處理、分析、存儲及顯示。
→載荷自動保持、應力、應變控制、循環控制及自編程控制等多種控制方式。
→控制模式智能設置，控制方式之間無沖擊、平滑切換，加載、卸載平穩。
→過程再現和數據再分析、曲線放大、比較、遍曆；曲線可自由放大和縮小；滿度自調。
→操控軟件，采用模塊化、開放式編程、個性化設計，可自行調整。
→標准模塊：權限管理模塊、試驗模塊、控制模塊、分析模塊、查詢模塊、輸出模塊等。
→操作提示和向導功能。
→靈活的Excel或Word報告格式，可選擇、指定、排序、單獨、合並、多類型輸出。
→網絡數據庫管理，可與多家聯網公司直聯。
→試驗結束自動返回，智能、高效、快捷。
→多重保護功能：試驗力過載保護；過流、過壓保護；試樣破斷時安全保護；試驗結束自動保護等。
重要參數：
→高速拉壓試驗載荷容量：50N/100N/200N/500N/1000N/2000N/5000N；
→高速拉壓試驗速度：0.0001～1500mm/min（60in/min）；
→高速拉壓試驗速度：0.0001～1000mm/min（40in/min）；
→中高速拉壓試驗速度：0.001～700mm/min（28in/min）；
→中高速拉壓試驗速度：0.001～600mm/min（24in/min）；
→高速試驗啓動時間：0～1500mm/min/0.3s；
→高速試驗停止時間：1500mm/min～0/0.3s；
→高速速度精度：±0.2%；
→高速位置分辨力：0.033μm；
→試驗載荷精度：顯示值的±0.5%（範圍0.2%～100%F.S）；
→試驗采集頻率：1000Hz(10Hz～1000Hz可自設分點)；
→可選標准機櫃(計算機、測控系統一體化集成)；
→可選旋轉式計算機操控系統Computer Control System(CCS)；
→可選觸屏操控系統Touch Screen System(TSS)；
産品擴展：
→HST-D系列;6000mm/min高速拉伸試驗機系統High-speed Testing Machine(Gate-type Double Column System)(CE CUL/CSA)；
→100N/200N/500N/1000N/2000N/5000N/10kN/20kN/30kN/50kN/100kN.2000mm/min中高速電子萬能試驗機Medium High speed Electronic Universal Testing Machine(Gate-type Double Column System)(CE CUL/CSA)；
→200kN/300kN.1000mm/min中高速電子萬能試驗機Medium High speed Electronic Universal Testing Machine(Gate-type Double Column System)(CE CUL/CSA)；
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